系列配合起偏，檢偏及DIC微分干涉，可以很好的觀(guān)察屏的導電粒子，確認導電粒子個(gè)數是否符合要求。

首先，需要觀(guān)察導電粒子必須要有配有DIC及起偏檢偏器的金相顯微鏡。對于觀(guān)察導電粒子來(lái)說(shuō)一般選用的鏡頭是要求為不超過(guò)20倍為好，超過(guò)后會(huì )由于景深的問(wèn)題導致觀(guān)察效果模糊，無(wú)法觀(guān)察到好的效果。

準備好金相顯微鏡及必要的屏后就可以開(kāi)始觀(guān)察導電粒子了。首先把DIC及起偏檢偏拉出，然后把屏放置在載物臺上，調整好焦距，通過(guò)載物臺移動(dòng)后找到觀(guān)察位置?，F在插入起偏及檢偏器，通過(guò)目鏡觀(guān)察屏上位置，再調節檢偏器，直到光線(xiàn)黑時(shí)停止調節檢偏器。后插入DIC,調節DIC進(jìn)行偏光直到看到導電粒子清晰時(shí)就可以停止了。

產(chǎn)品名稱(chēng)：導電粒子顯微鏡
產(chǎn)品型號：PZ-JTM-5040H
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：主要用于LCD、PDP、PCB等相關(guān)的光電產(chǎn)業(yè)，為其研發(fā)、制造提供所需的檢測設備。具有觀(guān)察OLB壓接粒子分布、液晶板表面貼附的異物、液晶板劃傷情況、測量導電粒子大小、數量等功能

產(chǎn)品特點(diǎn)：

導電粒子顯微鏡是一種兼顧影像與目視兩用的高精度、率測量?jì)x器。它具有電視成像與目視光學(xué)兩套瞄準系統，是集光、機、電、算、影像于一體的測量型金相顯微鏡。該儀器廣泛用于電子組件、精密模具、精密刀具、塑料、PCB加工等方面，不僅可用作坐標測量，還可以目鏡標準分劃板作顯微放大比較測量，測量螺紋的節距、外徑、牙角等工件尺寸或外形輪廓，ACF導電粒子形狀和瑕疵觀(guān)察，除應用于長(cháng)度、角度測量外，還可作為觀(guān)察顯微鏡。是機械、電子、儀表、鐘表、輕工、塑料行業(yè)，院校、研究所和計量檢定部門(mén)的計量室、實(shí)驗室已經(jīng)生產(chǎn)車(chē)間*的計量檢測設備之一。

1. 符合人機工程學(xué)設計準則方便操作測量

2. 工作臺一鍵式氣動(dòng)單手快速移動(dòng)操作

3. 可實(shí)現Z軸自動(dòng)對焦

4. 具有偏光和DIC檢測功能

5. 采用被動(dòng)式減震裝置，提高整機精度穩定性

6. 開(kāi)發(fā)QMS3D-M軟件，高清晰進(jìn)口1/2"彩色攝像機

7. 可通過(guò)激光指示器尋找被測工件的具體位置，可適應復雜工件的測量

8. 可實(shí)現高度輔助測量

9. Z軸光柵尺分辨力為0.1μm

10. 同軸光/底光測量

11. 可搭配白光納米檢測模塊測量納米級厚度

規格參數：

北京品智創(chuàng )思精密儀器有限公司