平面度測試儀

一、產(chǎn)品介紹：

平面度測試儀用于準確且多樣性地對各種IC封裝器件的引腳進(jìn)行測量。引腳的共面與否、是否有移位和尺寸大小均可通過(guò)軟件記錄和存儲。測試過(guò)程中，IC封裝器件的引腳放置于LED陣列光源形成的可調節細格光柵前，器件的左右移動(dòng)通過(guò)儀器側面的手輪控制。

二、產(chǎn)品特點(diǎn)：

1、元器件共面性測試
2、引腳移位檢測
3、引腳高度錯誤檢測
4、引腳面積測量
5、直徑、角度、不規則面積測量
6、手輪可調節光柵
7、非刺眼型光源
8、高精度XZ軸測距
9、SPC過(guò)程統計

三、分析軟件

平面度測試儀軟件方面，引腳成像于電腦顯示器上，并可進(jìn)行測量，同時(shí)通過(guò)器件的移動(dòng)可逐一檢測各個(gè)引腳高度是否，高精度的XZ軸測微距頭保證了測試的準確性。所有數據可以以記事本或EXCEL表格形式存儲于電腦內，方便調用。同時(shí)開(kāi)放SPC過(guò)程統計功能供參考。直接元素測量能測量12種元素（點(diǎn)、直接、圓、圓弧、橢圓、矩形、槽形、O形環(huán)、距離、角度、開(kāi)運線(xiàn)、閉云線(xiàn)）。測量方法多樣（自動(dòng)判別測量、采點(diǎn)測量，對比測量、公差對比測量，預置元素）。單點(diǎn)采集方法有多種：可鼠標采點(diǎn)，十字線(xiàn)尋邊采點(diǎn)，放大采點(diǎn)，直線(xiàn)采點(diǎn)，鼠標自動(dòng)捕捉。

1、間接測量

    兩元素之間的距離，兩邊夾角，多點(diǎn)構成平面的平面度等，都可以通過(guò)軟件的構造功能來(lái)實(shí)現?？梢詷嬙斓脑赜校狐c(diǎn)，線(xiàn)，圓，弧，角度，平面等

2、影像測量高度差

    先在一個(gè)平面聚焦，軟件會(huì )記錄一個(gè)平面的高點(diǎn)數據，然后在另一個(gè)面聚集，軟件同樣會(huì )記錄下一個(gè)點(diǎn)的數據，軟件通過(guò)亮點(diǎn)的坐標計算出兩個(gè)面的高度差，誤差小于0.005mm。

2、地圖功能

    可以可一個(gè)工件完整的圖片拍出，在圖片進(jìn)行測量和標注。圖片可以?xún)Υ?，在調出進(jìn)行測量。

3、宏測量

    宏測量功能就是，將一連串相同的"構造測量"，構造命令關(guān)聯(lián)到一個(gè)按鈕上，點(diǎn)擊按鈕，即開(kāi)始執行宏測量功能，宏測量功能會(huì )自動(dòng)完成構造動(dòng)作，減少用戶(hù)操作鼠標次數，提高工作效率。

4、模板測量

    模板測量方法，也是目測方法的一種，主要是通過(guò)用戶(hù)眼睛目測，看是否合格，類(lèi)似于投影儀上用到的標準規格板。

    模板測量，主要有十字線(xiàn)模板，方格模板和同心圓模板。

    十字線(xiàn)模板主要用來(lái)測量角度，方格模板主要是用來(lái)測量距離，通信團模板主要用來(lái)測量圓。

5、預置元素

    軟件可以在機械坐標系或者工作坐標系隨便預置元素。

6、坐標系建立

    可以隨便建立多個(gè)工件坐標系，然后十字線(xiàn)隨坐標旋轉，因此不用去擺正元件。建立工件坐標系的還一個(gè)好處就是保持跟圖紙一樣的基準，這樣測量時(shí)可以得到X和Y向距離。

7、數據輸出

    測量完的數據不需要用手去抄寫(xiě)，可以直接導出到Word、Excel、Tct、Cad然后打印。

8、專(zhuān)業(yè)SPC統計分析 PROFESSIONALSPC STATISTICS ANALYSIS

引用：測量目的

本IC芯片引腳共面性在線(xiàn)光電檢測儀是一款集光機電算、圖像識別和數控技術(shù)于一體的數字化、智能化光電儀器。它能快速獲取引腳共面性圖像信息，并通過(guò)軟件進(jìn)行自動(dòng)識別不良品等功能。其創(chuàng )新點(diǎn)如下： ①原理創(chuàng )新。同類(lèi)產(chǎn)品采用小景深原理作為引腳共面性是否超標的判據。該判別原理缺點(diǎn)是，因光學(xué)規律制約了小景深系統的視場(chǎng)不能大，要檢測較大的IC芯片引腳共面性，只能分步采集，檢測時(shí)間較長(cháng)，而儀器采用與基準平面比較為原理的創(chuàng )新思路。即引入檢測基準平面與引腳進(jìn)行距離比較，通過(guò)圖像處理軟件可知其比較值，進(jìn)而自動(dòng)判斷引腳的共面性是否超差。這一原理，可以通過(guò)大視場(chǎng)、高分辨率的光學(xué)系統一次性采集到IC芯片引腳圖像，因此檢測速度快。 ②技術(shù)手段創(chuàng )新、實(shí)現高性?xún)r(jià)比。為實(shí)現原始創(chuàng )新思路的技術(shù)手段是設計長(cháng)工作距離大視場(chǎng)高分辨率光學(xué)采集系統，以替代國外同類(lèi)產(chǎn)品中嚴格控制景深的光學(xué)系統。兩者相比，本光學(xué)系統設計難度相對低，故本儀器具有高性?xún)r(jià)比。 技術(shù)關(guān)鍵： ①長(cháng)工作距離大視場(chǎng)高分辨率光學(xué)采集系統的設計制造 ②圖像處理與自動(dòng)識別軟件的開(kāi)發(fā)。