一鍵式影像測量?jì)x

一鍵式影像測量?jì)x基于光學(xué)成像的尺寸測量?jì)x器在制造領(lǐng)域應用廣泛，傳統的光學(xué)尺寸測量?jì)x器包括工具顯微鏡、投影儀、影像測量?jì)x（二次元）等，都存在檢測效率低、人為操作誤差、人員技能要求高、數據難以信息化等各種問(wèn)題。

一鍵式影像測量?jì)x特點(diǎn)

穩定快速：雙遠心光路結合圖像畸變校正、亞像素數值處理算法，實(shí)現高精度、高穩定性尺寸測量；精密電動(dòng)平臺配合可快速更換及實(shí)時(shí)調節的正面照明系統，滿(mǎn)足用戶(hù)對復雜表面尺寸的準確測量。

光學(xué)畸變校正：在高精度圖像尺寸測量應用中，鏡頭畸變校正具重要意義，即使是細微的畸變，也會(huì )造成精度嚴重滑坡。只有真實(shí)的圖像才能真實(shí)地反映物體的真實(shí)形態(tài)。但是鏡頭畸變是透鏡的固有失真造成的，實(shí)際應用中，還與鏡頭的精度、質(zhì)量有著(zhù)種種關(guān)聯(lián)，是不可避免的。通常的鏡頭畸變主要為非線(xiàn)性畸變，包括了徑向畸變和切向畸變。常見(jiàn)的桶形畸變和枕型畸變正是由徑向畸變所造成的。而切向畸變是理想點(diǎn)沿著(zhù)切線(xiàn)方向發(fā)生變化導致的，也可以理解為角度方向上的變化。因此，本產(chǎn)品對基于非線(xiàn)性技術(shù)的光學(xué)系統畸變校正算法進(jìn)行了研究，以提高測量精度以及測量效率。將非線(xiàn)性畸變參數作為相機的內部參數之一，通過(guò)對初值的獲取，聯(lián)合其他的內部參數一并在非線(xiàn)性深度優(yōu)化求解過(guò)程中獲得。終利用得到的誤差補償函數的系數矩陣和徑向畸變參數，實(shí)現鏡頭畸變的誤差校正，有效改善了鏡頭畸變造成的檢測誤差，滿(mǎn)足工業(yè)測量過(guò)程中的實(shí)時(shí)性和高精度要求。

技術(shù)參數

測量范圍(mm)：180×150。

調焦行程（mm）：50。

測量精度（μm）：±10。

重復精度（μm）：±4。

景深（mm）：300

光學(xué)系統：500萬(wàn)像素CCD；雙遠心工業(yè)鏡頭； 遠心平行背光源、LED環(huán)形正面光源。

軟件：快速閃測Easson軟件。

接口：GigE ×1（雙視野型號×2），RS 232 ×1，及其他可擴展接口。

電源：AC 220V，50Hz。

工作環(huán)境：溫度15-25℃；濕度30%-80%；振動(dòng)<0.002g, 15Hz。

 檢查庫
圍繞工藝的環(huán)境產(chǎn)生消極影響，必須通過(guò)幾個(gè)途徑降低到小，以滿(mǎn)足頭工作的要求。
● AOI檢查庫──對部分AOI制造商的標定工具進(jìn)行調整是極為重要的，所以，這些變化能夠傳遞到照相機和照明模塊上。
● 對于不同產(chǎn)品的AOI檢查庫，有可能在當地進(jìn)行調整──這是AOI軟件*的特性。
● 貼片公差——進(jìn)料器常規的維護和校準。
● 確定檢查質(zhì)量：IPC標準2級——必須允許使用朝下的電阻器。組件趐起和共面性的檢測必須可靠。
關(guān)于元件長(cháng)度公差，不同的組件供應商、電路板和無(wú)鉛焊料的供應商都不可能沒(méi)有任何直接的影響。AOI程序應該能夠應付這些這影響。如果這些個(gè)別點(diǎn)的變化可以保持不變，那么就能夠相當大地簡(jiǎn)化AOI編程。經(jīng)研究得到的結論是，由于無(wú)鉛產(chǎn)生的影響，圖形對照系統無(wú)法得到適合的檢查結果，這是因為合格的樣品變化太大。更加可行的方法是，取出確定每道工藝和元件變化的特性。這些變化可以分成不同的等級。如果在現在使用的工藝中，出現了一個(gè)新的變化，就要增加一個(gè)級別，來(lái)保證檢查的性。所有認識到的和已知的缺陷都儲存起來(lái)，他們的類(lèi)型和圖片可以用于A(yíng)OI系統和數據庫里的檢查程序。我們沒(méi)有必要把一塊不同缺陷的電路板保存起來(lái)用于詳細的檢查。