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  • 選購水滴角的注意事項

    2019-01-26 水滴角或水接觸角的測試主要注意點(diǎn)包括:(1)水的純度或清潔度一定要有保證。通常而言,建議測試水滴接觸角值時(shí)采用二次蒸餾水更好。(2)盡量保證室溫的穩定性。*,水的表面張力值受溫度影響而有變化。但對于超疏水或超親水表面時(shí),接觸角值事實(shí)影響并非很大,約在2度之內。(3)測試水滴角前,一定要作進(jìn)液系統及水的清潔度的判斷。方法為,測試之前,采用基于A(yíng)DSA-RealDrop算法的Young-Laplace方程擬合法對水的表面張力值進(jìn)行測試。ADSA-RealDrop法由于不受針頭直徑...
  • 北京品智創(chuàng )思臺階儀特點(diǎn)

    2019-01-26 臺階儀屬于接觸式表面形貌測量?jì)x器。根據使用傳感器的不同,接觸式臺階測量可以分為電感式、壓電式和光電式3種。其測量原理是:當觸針沿被測表面輕輕滑過(guò)時(shí),由于表面有微小的峰谷使觸針在滑行的同時(shí),還沿峰谷作上下運動(dòng)。觸針的運動(dòng)情況就反映了表面輪廓的情況。傳感器輸出的電信號經(jīng)測量電橋后,輸出與觸針偏離平衡位置的位移成正比的調幅信號。經(jīng)放大與相敏整流后,可將位移信號從調幅信號中解調出來(lái),得到放大了的與觸針位移成正比的緩慢變化信號。再經(jīng)噪音濾波器、波度濾波器進(jìn)一步濾去調制頻率與外界干擾信號...
  • 電池充電放電測試系統

    2019-01-26 設備型號PZ-M50A/400V輸出通道1通道1柜,共1柜接口與訊通過(guò)485與PC機通訊,可通過(guò)U口或串口連接,一臺PC機可控制200工作模式恒壓充電、恒流充電、恒流定終止電壓檢時(shí)放電、恒流定時(shí)檢壓放電、恒功率放電、恒電阻放電、靜置、暫停、循環(huán)運行方式,設置多階段程序時(shí)運行方式可以自由組合階段切換條件時(shí)間、電壓、安時(shí)實(shí)時(shí)顯示電流、電壓、時(shí)間、階段、模式、Ah、Wh、單體電壓操作模式1.階段數目、電流、電壓等參數可以在額定范圍內自行設置;2.程序設置終止條件時(shí),不必逐項都填寫(xiě),...
  • 晶圓表面張力接觸角表面能分析檢測測量系統

    2019-01-26 晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統詳情:晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統適用于半導體晶圓(Wafer)工藝的質(zhì)量控制。該視頻成像(VCA-Wafer)晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統提供晶圓(Wafers)表面的快速并準確的接觸角/表面能分析,從而評估粘性,潔凈度及鍍膜。晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統采用輕量化的設計、組裝方便的基于Windows™標準的用戶(hù)友好型...
  • 橢偏儀SOPRALAB/KLA 在半導體工藝上的應用

    2019-01-25 公司提供匈牙利Semilab公司SE-2000型、SE-1000光譜型橢偏儀(原法國Sopra公司GES5-E)。WT-2000型、WT-1200A、WT-1200B型、WT-1000型少子壽命測試儀、DLS-83D深能級瞬態(tài)譜儀。SE-2000光譜橢偏儀(原法國Sopra公司)是的橢偏儀設備供應商,其高精度橢偏儀在半導體、化合物半導體(GaAs/SiC)、LCD和MEMS領(lǐng)域有著(zhù)非常廣泛的應用。目前有超過(guò)500臺的Sopra橢偏儀應用在各個(gè)行業(yè)。主要特點(diǎn):高精度的薄膜測量(...
  • 臺階輪廓測試儀kia-tencor在半導體的應用

    2019-01-25 儀器簡(jiǎn)介:應用:◆薄膜厚度測量;◆樣品表面形貌測量;◆薄膜應力測量;◆樣品表面粗糙度/波紋度測量;◆樣品表面三維形貌測量等。技術(shù)參數:KLA-Tenco探針式臺階儀,可測量納米級至2毫米臺階高度,并可分析薄膜表面粗糙度、波紋度、應力,集高測量精度、多功能性和經(jīng)濟性于一體,是生產(chǎn)線(xiàn)及材料分析等應用領(lǐng)域的理想選擇。因其具有6.0A(1σ)或0.1%臺階高度重復性以及分辨率,主要特點(diǎn):◆Alpha-StepIQ采用天然金剛石作為探頭,經(jīng)久耐用。探針更換簡(jiǎn)便、快速,軟件具有保護測針以...
  • 光學(xué)膜厚儀Filmetrics F20UVX在半導體制造的應用

    2019-01-25 FilmetricsF20薄膜測厚儀經(jīng)濟有效的Filmetrics薄膜厚度測量系統,測量薄膜厚度僅需幾秒鐘。Filmetrics系列膜厚測試儀擁有單點(diǎn)測量、顯微鏡斑點(diǎn)測量、自動(dòng)測繪系統、在線(xiàn)監測等功能型號的膜厚測試儀產(chǎn)品。Filmetrics膜厚測試儀產(chǎn)品輕點(diǎn)鼠標就能測量1納米到13毫米的單層薄膜或多層薄膜堆厚度。幾乎所有的材料都可以被測量。直觀(guān)的設計意味著(zhù)您能在幾分鐘內完成個(gè)薄膜厚度測量!產(chǎn)品介紹:1有五種不同波長(cháng)選擇(波長(cháng)范圍從紫外220nm至近紅外1700nm);2大樣...
  • 龍門(mén)三坐標的簡(jiǎn)介

    2019-01-24 為了滿(mǎn)足不同行業(yè)的不同需求,三坐標測量機也分好多種,其中有一種叫龍門(mén)式三坐標測量機的測量設備,主要為有大型工件測量需求的客戶(hù)提供測量解決方案。下面我們推薦一種叫Atlas的大型龍門(mén)式三坐標測量機,以下是一些技術(shù)參數,希望對您的使用購買(mǎi)有所幫助。Atlas系列三坐標測量機是為大型及超大型工件設計的坐標測量機系列,采用龍門(mén)式結構,Y軸超長(cháng)行程時(shí)采用花崗巖氣浮導軌對接技術(shù),使Y軸測量范圍可達30M。該系列產(chǎn)品主要應用于汽車(chē)、航天航空、船舶、高鐵、重型運輸以及模具行業(yè)。Atlas龍門(mén)...
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