產(chǎn)品時(shí)間：2024-04-15
BX53P偏光測量顯微鏡使用UIS2校正光學(xué)系統和光學(xué)設計組合的BX53-P偏光顯微鏡在偏光應用時(shí)提供了性能?？蓴U展的補償器使BX53-P有足夠多的功能來(lái)處理任何相關(guān)領(lǐng)域中的觀(guān)察和測量應用。
BX53P偏光測量顯微鏡校正UIS2光學(xué)系統防止了光學(xué)顯微鏡性能的降低，消除了對顯微鏡光學(xué)放大倍數的影響，即使在光路中插入偏光元件，比如起偏振片、色板或補償器。在保持高水平系統靈活性的同時(shí)，BX53-P也兼容BX3系列系統顯微鏡的中間附件，以及相機和成像系統。
BX53P偏光測量顯微鏡ABX53-P偏光顯微鏡在起偏振片和檢偏振片里配備了高EF值濾色片，提供了的圖像對比度。為滿(mǎn)足研究和應用的多樣化要求，萬(wàn)能型UPLFLN-P系列物鏡采用了適用于多種觀(guān)察方法的設計，包括Nomarski DIC和熒光顯微鏡觀(guān)察以及偏光觀(guān)察。
* EF（衰減系數）是平行和交叉偏光濾色片之間的亮度比。EF值越高，消光效果就越好。
BX53-P顯微鏡可以使用6種不同的補償器，能夠測量多種水平延遲，范圍從0到20λ。為使測量更容易，還提供了直接讀數法。使用Senarmont*或Brace-Koehler補償器可以獲得圖像對比度，以改變整個(gè)視野里的延遲水平。
* 與綠色濾色片IF 546或IF 550。
使用U-CPA錐光鏡觀(guān)察附件后，正交偏光和錐光鏡觀(guān)察之間的切換簡(jiǎn)單而快捷。錐光鏡成像的聚焦輕松而準確。透鏡視場(chǎng)光闌的使用使其可以持續獲取銳利而清晰的錐光圖像。
旋轉載物臺安裝的旋轉對中裝置能夠順暢地旋轉標本。此外，為了實(shí)施準確測量，每隔45度就有一個(gè)咔噠停止裝置。如果增加了雙機械載物臺，還可以進(jìn)一步完成X-Y的微小移動(dòng)。
010-87681080
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